电子元器件试验方法电子元器件试验方法有哪些呼吸阀

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1、对于工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷和局部发热点等都有较好的筛选效果。对于无缺陷的元器件，老化也可促使其电参数稳定。半导体器件常用的老化筛选方法。常温静态功率老化就是使器件处在室温下老化。半导体的PN结处于正偏导通状态，器件老化所需要的热应力，是由器件本身所消耗的功率转换而来的。

2、由于器件在老化过程中受到电、热的综合作用，器件内部的各种物理、化学反应过程被加速，促使其潜在缺陷提前暴露，从而把有缺陷的器件剔除。这种老化方法无需高温设备，操作也很简便，因此被普遍采用。在器件的安全范围内，适当加大老化功率（提高器件结温）可以收到更好的老化效果，并且可以缩短老化时间。

电子元器件试验方法相关拓展

电子元器件试验方法有哪些

2本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计、建立了可靠性质量管理和连续生产的产品。对于预期寿命能合理地认为是服从指数分布的单批产品的失效率试验也可适用。3名词解释:(1)失效率:本标准所规定的失效率，是指产品标准规定的额定条件下的失效率。失效率试验:为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验称为失效率试验。

失效率试验分为定级试验、维持试验、升级试验三种。定级试验:为首次确定产品的失效率等级而作的试验，或在某一失效率等级的维持和升级试脸失败后，对产品重新确定其失效率等级而进行的试验称为定级试验。维持试验:为证明产品的失效率等级仍不低于定级试验或升级试验后所确定的失效率等级进行的试脸称为维持试验。

电子元器件试验方法有哪几种

文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。2本标准适用于其寿命能合理地认为是服从指数分布，在本质上是同一设计、建立了可靠性质。量管理和连续生产的产品。对于预期寿命能合理地认为是服从指数分布的单批产品的失效率试验也可适用。3名词解释:(1)失效率:本标准所规定的失效率，是指产品标准规定的额定条件下的失效率。

失效率试验:为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验称为失效率试验。为定级试验、维持试验、升级试验三种。定级试验:为首次确定产品的失效率等级而作的试验，或在某一失效率等级的维持和升级。试脸失败后，对产品重新确定其失效率等级而进行的试验称为定级试验。维持试验:为证明产品的失效率等级仍不低于定级试验或升级试验后所确定的失效率等级。

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